設(shè)備特性
1、電性量測(cè)電路采用Kelvin法，可避免接觸電阻和線阻造成之測(cè)量誤差；
2、完善的報(bào)表打印和數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)系統(tǒng)；
3、全系列LED測(cè)試系統(tǒng)解決方案，采用PC-based裝置，提供快速靈活之自動(dòng)測(cè)試和人機(jī)交互接口；
4、用戶可任意定義之電壓電流源值，之測(cè)試項(xiàng)目之上限與下限，之任意安排量測(cè)值之輸出BIN位；
5、快捷的分級(jí)設(shè)定功能。
6、可分析藍(lán)光波長(zhǎng)與黃色熒光粉合成之白光的坐標(biāo)位置
7、可量測(cè)波長(zhǎng)λ=200~1100nm，光強(qiáng)度Iv=0~100000mcd CIE視函數(shù)探測(cè)器；
8、采用獨(dú)特的白光測(cè)量方法和光學(xué)器件，更先進(jìn)的白光分色技術(shù)；
9、可測(cè)試共陰或共陽(yáng)之任何封裝，單腳單晶、雙腳雙晶、三腳雙晶之Wafer、S或Lamp封裝，可測(cè)試紅外發(fā)射管和接收管；
10、量測(cè)標(biāo)準(zhǔn)可追溯至CIE127-1997、Instrument Systems、NIST和Keithley；
11、可選擇積分球、視覺(jué)函數(shù)光探測(cè)器或分光光譜儀等光學(xué)量測(cè)感應(yīng)裝置；
12、實(shí)時(shí)CIE坐標(biāo)圖及落點(diǎn)顯示；
13、16位恒流恒壓源和數(shù)位量測(cè)電表之分辨率；
